Ochrona własności intelektualnej WMCM-LE-OWI

EK1 student wymienia i opisuje pojęcia z zakresu prawa własności intelektualnej
EK2 student rozróżnia i objaśnia źródła prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK3 student definiuje i prezentuje charakterystykę instytucji prawa własności intelektualnej
EK4 student opisuje instrumenty ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK5 student objaśnia instytucje i ochronę własności przemysłowej

Metodami weryfikacji efektów kształcenia EK1-EK5 są aktywność na zajęciach, obserwacja zachowań, ocenianie ciągłe, praca pisemna, sprawdziany pisemne, odpowiedź ustna na zakończenie.

kryteria oceniania:
na ocenę 2:
EK1 student nie zna pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej
EK2 student nie rozróżnia i nie potrafi objaśnić źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK3 student nie zna definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej
EK4 student nie zna instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK5 student nie potrafi scharakteryzować na czym polega instytucja i ochrona własności przemysłowej
na ocenę 3:
EK1 student posiada zadowalającą wiedzę na temat pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej
EK2 student ma zadowalającą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK3 student ma zadowalającą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej
EK4 student ma zadowalającą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK5 student ma zadowalającą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej
na ocenę 4:
EK1 student posiada dobrą wiedzę na temat definiowania pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej
EK2 student posiada dobrą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK3 student posiada dobrą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej
EK4 student posiada dobrą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK5 student posiada dobrą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej
na ocenę 5:
EK1 student potrafi bardzo dobrze definiować pojęcia z zakresu prawa własności intelektualnej
EK2 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK3 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej
EK4 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej
EK5 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej

1. Wykaz literatury podstawowej:

J. Barta, R. Markiewicz „Prawo autorskie” Oficyna Wolters Kluwer, Warszawa, aktualne wydanie
M. Poźniak-Niedzielska, J. Szczotka, M. Mozgawa „Prawo autorskie i prawa pokrewne zarys wykładu”, Oficyna Wydawnicza Branta, Bydgoszcz, Warszawa, Lublin 2007
J.Banasiuk, J.Sieńczyło-Chlabicz, Z.Zawadzka „Prawo własności intelektualnej”, Wolter Kluwer, Warszawa 2018
E.Nowińska, U.Promińska, K.Szczepanowska- Kozłowska, „Prawo własności przemysłowej”, LexisNexis, Warszawa 2014

2. Wykaz literatury uzupełniającej:
System prawa prywatnego t. XIII prawo autorskie (J. Barta red.) Warszawa 2017
M. du Vall "Prawo patentowe", Oficyna Wolters Kluwer, Warszawa, aktualne wydanie

Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb:

• Strona przedmiotu WMCM-LE-OWI w USOSweb