II Pracownia fizyczna WM-FI-PF
Zagadnienia i metody pomiarowe z zakresu fizyki klasycznej i współczesnej z zastosowaniem zaawansowanych technik elektronicznych i metod komputerowej analizy eksperymentu stosowanych w laboratoriach naukowych.
Tematy ćwiczeń:
1. Złącza półprzewodnikowe
2. Znaczniki fluorescencyjne
3. Nanodruty ZnO
4. Mikroskop sił atomowych (AFM)
5. Termometr rubinowy
Grupa przedmiotów ogólnouczenianych
Poziom przedmiotu
Symbol/Symbole kierunkowe efektów uczenia się
Typ przedmiotu
Koordynatorzy przedmiotu
Efekty kształcenia
1. Zna podstawowe zasady wykorzystywania prac naukowych do badań.
2. Zna złożone układy pomiarowe wykorzystujące narzędzia elektroniczne i informatyczne.
3. Zna zasady bezpieczeństwa i higieny pracy w stopniu wystarczającym do samodzielnej pracy w zawodzie fizyka.
4. Korzysta z literatury fachowej dla wybranej dziedziny fizyki zarówno w języku polskim jak i angielskim.
5. Posiada umiejętności wyrażania treści fizycznych w mowie i na piśmie, w tekstach fizycznych o różnym charakterze.
6. Potrafi obsługiwać złożone układy pomiarowe i precyzyjnie przeprowadzać pomiar i analizę danych.
7. Potrafi pracować zespołowo; rozumie konieczność systematycznej pracy nad wszelkimi projektami, które mają długofalowy charakter.
8. Potrafi formułować opinie na temat podstawowych zagadnień fizycznych.
OPis ECTS:
Udział w zajęciach: 152 h
Przygotowanie do zajęć: 16 h
Opracowanie i przygotowanie sprawozdań: 40 h
Suma godzin: 208
Liczba ECTS: 208h/26 = 2 ECTS
Kryteria oceniania
Ćwiczenia wykonywane są w dwuosobowych zespołach. Oceniane jest indywidualnie: + przygotowanie do ćwiczenia (krótki sprawdzian ustny); + współpraca przy przeprowadzeniu eksperymentu (umiejętności praktyczne); + pisemne opracowanie wyników; + terminowość zakończenia ćwiczenia. Każde z wykonywanych ćwiczeń podlega osobnej ocenie i konieczne jest uzyskanie zaliczających ocen ze wszystkich wykonanych ćwiczeń. Końcowa ocena jest średnią uzyskanych ocen.
Literatura
Literatura podstawowa:
1. Instrukcje do ćwiczeń z II Pracowni fizycznej
2. Skrypt laboratoryjny Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Politechniki Wrocławskiej – „Charakteryzacja złącz Schottky’ego metodą I–V”: http://dydaktyka2.wemif.pwr.wroc.pl/pdm (ćw. 2).
3. B.S. Witkowski et al., Ultra-fast growth of the monocrystalline zinc oxide nanorods from the aqueous solution, Int. J. Nanotechnol. 11, 758, (2014).
Literatura uzupełniająca:
1. B.A. Weinstein, Rev. Sci. Instrum. 57, 910 (1986).
2. K. Syassen, Ruby under Pressure, High Press. Res. 28, 75 (2008).
3. J. García Solé, L. E. Bausá, D. Jaque, An Introduction to the Optical Spectroscopy of Inorganic Solids, John Wiley & Sons Ltd, West Sussex, England 2005, dostępna w sieci pod adresem: books.google.pl/books?isbn=0470868856
4. Van Zeghbroeck B., “Principles of Semiconductor Devices” (2011).http://ece-www.colorado.edu/~bart/book/book/title.htm.
5. Sze S. M., Ng K. K., “Physics of Semiconductor Devices”, 3rd Edition, John Wiley & Sons Inc. Hoboken, New Jersey (2007).
6. Bob Hafner, Scanning Electron Microscopy Prime
Więcej informacji
Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb: